數(shù)控裁斷機形勢不斷地向儀器儀表提出了更高要求
數(shù)控裁斷機形勢不斷地向儀器儀表提出了更高要求
裁斷機這一背景和形勢,不斷地向儀器儀表提出了更高、更新、更多的要求,如要求速度更快、靈敏度更高、穩(wěn)定性更好、樣品量更少、檢測微損甚至無損、遙感遙測更遠距、使用更方便、成本更低廉、無污染等,同時也為儀器儀表科技與產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供了強大的推動力,并成了儀器儀表進一步發(fā)展的物質(zhì)、知識和技術(shù)基礎, 尤其需要指出的是：近10年來,由于包括納米級的精密機械研究成果、分子層次的現(xiàn)代化學研究成果、基因?qū)哟蔚纳飳W研究成果,以及高精密超性能特種功能材料研究成果和全球網(wǎng)絡技術(shù)推廣應用成果等在內(nèi)的一大批當代最新技術(shù)成果的競相問世,使得儀器儀表領域發(fā)生了根本性的變革, 隨著世界的發(fā)展。
